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铟掺杂Se-Te-Sn硫系玻璃陶瓷的阻抗谱学研究:揭示快速极化与能量存储转换的构效关系
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年08月28日 来源:Next Materials CS1.9
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本文研究了铟(In)掺杂Se78-xTe20Sn2Inx硫系玻璃陶瓷的阻抗特性,通过等效电路建模揭示了晶界与晶粒的双弛豫机制,发现非德拜弛豫行为和负温度系数电阻(NTCR)特性。研究证实铟掺杂可优化相稳定性,获得超短弛豫时间(~10-11 s)和适中活化能(0.26-0.34 eV),为新一代热电模块和超级电容器提供了理想的功能层材料。
在材料科学领域,硫系玻璃因其独特的电学和光学特性备受关注,这类材料在红外光学、相变存储和辐射屏蔽等领域展现出巨大潜力。然而,传统硫系玻璃普遍存在载流子迁移率低、晶界阻抗高等问题,严重制约了其在能量转换与存储设备中的应用。如何通过组分调控优化其介电响应和电荷传输性能,成为当前研究的重点难点。
针对这一挑战,Kaushal Kumar Sarswat等人在《Next Materials》发表了关于铟掺杂Se-Te-Sn硫系玻璃陶瓷的突破性研究。团队采用熔融淬火法制备了Se78-xTe20Sn2Inx(x=0-6)系列样品,通过X射线衍射(XRD)和拉曼光谱确认了In2Se3和SnTe等纳米晶相的存在。借助阻抗谱技术(0.1-500 kHz)和变温电学测试(300-333 K),系统揭示了材料的结构-性能关系。
关键技术方法
研究采用熔融淬火法制备玻璃样品,通过XRD和差示扫描量热法(DSC)表征非晶/晶相组成,扫描电镜(SEM)观察表面形貌,能量色散X射线谱(EDAX)验证元素分布。电学性能测试使用LCR meter测量复阻抗,采用等效电路模型拟合数据,结合Cole-Cole公式和常数相位元件(CPE)分析非理想弛豫行为。
结果与讨论
3.1 阻抗响应特性
Nyquist图显示温度诱导的弛豫过程转变:低温区单一半圆对应晶粒主导响应,高温区出现双弧结构揭示晶界贡献增强。CPE模型拟合证实非德拜弛豫,弛豫时间τ随温度升高呈指数衰减,符合Arrhenius关系。
3.2 介电弛豫动力学
复模量谱显示高频区晶粒响应与低频区晶界效应的分离。STSI-2样品表现出最短弛豫时间(7.76×10-11 s),对应超快极化能力,这是超级电容器快速充放电的关键指标。
3.3 导电机制
AC电导率分析证实关联势垒跳跃(CBH)为主导传输机制。频率指数s的温度依赖性表明In掺杂优化了载流子-晶格耦合,STSI-1样品获得最低活化能(0.26 eV),与高性能SnTe基热电材料相当。
3.4 Meyer-Neldel规则验证
活化能与指前因子的补偿关系证实熵辅助跳跃传导,STSI-1的Meyer-Neldel能量(9.74 eV)表明其具有优异的结构稳定性,这对器件长期循环性能至关重要。
结论与意义
该研究首次系统阐明了In掺杂对Se-Te-Sn玻璃陶瓷电学性能的调控机制:
这些发现使STSI-1/2成为极具潜力的多功能材料,可同时满足超级电容器(快速极化)、热电模块(载流子输运)和固态电解质(离子迁移)等不同应用场景的需求。研究为硫系玻璃在能源领域的应用开辟了新途径,特别是为开发适应高频工作的微型化储能器件提供了材料基础。
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