利用正电子寿命谱技术探究掺杂Na2AgY(Si2O5)3晶体的Na2O–SiO2–P2O5–Y2O3玻璃陶瓷中由Ag2O引起的纳米缺陷

《physica status solidi (a)– applications and materials science》：Probing of Nanodefects Induced by Ag2O in Na2O–SiO2–P2O5–Y2O3 Glass Ceramics Entrenched with Na2AgY(Si2O5)3 Crystals Through Positron Lifetime Spectroscopy

Ag?O掺杂量从0.02增至0.04 mol%时，40Na?O–50SiO?–5P?O?–(5?x)Y?O?–xAg?O玻璃陶瓷的自由体积显著增加，PAL光谱证实Ag?颗粒通过形成缺陷和促进离子迁移实现改性。低掺杂量样品结构更致密，验证了PAL光谱在评估玻璃陶瓷自由体积的有效性，其中0.04 mol%掺杂体系具有应用潜力。

　　

摘要

本文利用正电子湮灭寿命（PAL）光谱技术研究了Ag₂O对40Na₂O–50SiO₂–5P₂O₅–(5 – x)Y₂O₃–xAg₂O（其中x = 0.01–0.04 mol%）玻璃陶瓷中自由体积空间的影响。研究发现，随着Ag₂O含量从0.02 mol%增加到0.04 mol%，玻璃陶瓷中的自由体积空间有所增加。这种增加归因于Ag⁰金属颗粒浓度的提高，这些颗粒作为改性剂，产生了自由体积缺陷并促进了导电物质的迁移。相反，含有0.02 mol% Ag_{2f/f0）与交流电导率随Ag2O浓度变化的相关性表明，PAL光谱技术是估算这些玻璃陶瓷中自由体积的可靠方法。进一步比较发现，掺杂了0.04 mol% Ag2}

利益冲突

作者声明没有利益冲突。