利用改进的Williamson–Hall方法和改进的Warren–Averbach方法对能量扫描的Laue微衍射峰进行线形轮廓分析

《Journal of Applied Crystallography》：Line profile analysis of energy-scanned Laue microdiffraction peaks using the modified Williamson–Hall and modified Warren–Averbach methods

激光冲击强化镍试样微米级位错结构分析，结合改进的Warren-Averbach和Williamson-Hall方法，通过衍射峰能量扫描分析位错密度、储存能及相互作用，验证假设模型并对比透射电镜数据。

　　

摘要

将改进的Warren–Averbach（mWA）方法和改进的Williamson–Hall（mWH）方法结合起来，用于表征激光冲击强化镍样品在微米尺度上的局部位错结构。通过对Laue微衍射峰进行能量扫描获得的峰形数据进行解析，研究了位错密度、存储能量以及位错之间的相互作用。这两种方法分别利用了峰值的傅里叶变换的渐近形式（mWA方法）和由半高宽（mWH）描述的长程屏蔽效应，它们相辅相成，首次提供了验证假设位错模型是否合理的可能性。当mWH图呈线性时，这种组合方法适用于稀疏位错结构。所得位错密度结果与先前通过透射电子显微镜获得的数据基本一致。