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基于目标区块检测的自适应压缩感知原子力显微镜成像技术
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年07月31日 来源:Microscopy Research and Technique 2.1
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为解决传统原子力显微镜(AFM)高分辨率成像耗时过长的问题,研究人员提出了一种创新的自适应压缩感知(CS)成像方案。通过低分辨率快速扫描结合双三次插值生成初始图像,利用Otsu算法和八连通性方法定位目标区块,采用GRNN模型动态调整采样率,最终通过TVAL3算法重建目标区域。该方法在保证成像质量的同时显著提升了AFM的扫描效率。
原子力显微镜(AFM)作为微纳米尺度样品表面特性研究的重要工具,传统扫描方式在获取高分辨率图像时效率低下。压缩感知(CS)技术虽能加速成像,但随着图像尺寸和分辨率需求提升,测量矩阵会急剧膨胀。区块压缩感知(BCS)通过分块处理降低计算复杂度,却难以平衡不同区域的成像质量。
这项研究创新性地提出自适应CS-AFM成像方案:首先快速获取低分辨率图像,通过双三次插值生成高分辨率基底;随后运用Otsu阈值分割与八连通性分析精准定位目标区块;广义回归神经网络(GRNN)根据区块特征动态调节采样率;对目标区域进行补充扫描后,采用全变分正则化(TVAL3)算法进行高质量重建;最终将重建区块无缝替换至基底图像。
实验证明,该方案在成像速度、质量和分辨率三个维度均显著优于传统方法。这种智能化的自适应采样策略,为生命科学领域的纳米级生物样本快速成像(如细胞膜表面受体分布观测、病毒颗粒形貌分析等)提供了突破性的技术支撑,尤其适用于活体样本的动态监测研究。
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