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为评估癫痫患者手术前后记忆状况，研究人员对比立体脑电图（SEEG）中电刺激（ES）诱发颞叶内侧后放电（ADs）时患者记忆任务表现与神经心理学评估（NPA）结果，发现二者存在关联，ADs 表现可辅助术前记忆评估，为术前评估提供新方法。
在癫痫治疗领域，颞叶癫痫（Temporal Lobe Epilepsy，TLE）是个棘手的问题。它约占局灶性癫痫的三分之二，还是耐药性最强的癫痫类型。目前，手术是治疗耐药性 TLE 的主要手段，但术后并发症多种多样，其中神经心理学方面的损伤，尤其是记忆功能的变化，备受关注。比如，主导半球 TLE 手术患者中有 44% 出现言语记忆下降，非主导半球手术患者也有 20% 出现类似情况；而在视觉记忆方面，两侧手术后均有 20% 左右的患者出现恶化。
为了更好地评估 TLE 手术后的记忆衰退情况，找到可靠的预测指标就显得尤为重要。以往的 Wada 测试，由于其具有侵入性且结果有时难以解释，自 21 世纪初以来已被许多癫痫手术团队弃用。虽然它仍是公认的评估语言和记忆的金标准，但使用起来有诸多不便。功能磁共振成像（Functional Magnetic Resonance Imaging，fMRI）现在广泛用于评估记忆和预测术后记忆衰退，不过它也存在不少局限，像海马体体积小、磁共振成像（Magnetic Resonance Imaging，MRI）显示的颞叶内侧结构异质性、静息状态下颞叶内侧结构的大量激活干扰评估，以及测试团队的技术水平差异等问题。在这样的背景下，研究人员急需寻找一种更有效的方法来解决这些难题。
来自雷恩大学医院癫痫手术科的研究人员开展了一项研究，试图探索新的记忆评估方法。他们将 SEEG 中 ES 诱发颞叶内侧 ADs 时患者的记忆任务表现，与术前 NPA 结果进行对比，并评估 ES 期间记忆任务对术后记忆衰退的预测价值。研究成果发表在《Cortex》杂志上。
研究人员采用的关键技术方法主要有：收集 1998 年至 2022 年雷恩大学医院癫痫手术科接受 SEEG 的患者数据，这些患者均植入了双侧颞叶内侧结构电极。在患者颞叶内侧出现 ADs 时，让他们完成物体回忆、物体再认以及判断是否存在时空定向障碍等记忆任务，并记录结果；同时获取患者术前 NPA 的记忆评分数据。
研究结果如下：
- 患者基本信息：共纳入 65 名患者，平均年龄 31.3 岁，其中女性 35 名，男性 30 名。55 人右利手，8 人左利手，2 人双手通用。24 名患者在 SEEG 后接受了手术，两次操作间隔平均为 6.5 个月。
- NPA 与 ADs 期间记忆表现的相关性：NPA 结果与非优势半球 ADs 期间记忆表现，在回忆阈值为 0.33 时，相关性接近显著（p = 0.05）；与优势半球 ADs 期间记忆表现，在回忆阈值为 0.25 时，相关性接近显著（p = 0.06）。这表明二者之间存在一定关联。
- ADs 对术后记忆结果的预测价值：对于接受手术的患者，当阈值为 0.75 时，同侧 ADs 期间记忆表现对术后记忆结果的预测价值显著（p = 0.028）。说明 ADs 期间的记忆表现能够在一定程度上预测术后的记忆情况。
研究结论和讨论部分指出，本研究将 SEEG 中 ES 诱发颞叶内侧 ADs 时的记忆测试，类比为 “电 Wada 测试”。结果显示，至少 10 秒的 ADs 持续时间足以用于解释测试结果。而且，颞叶内侧 ADs 期间的记忆任务与 NPA 结果存在一定相关性，可作为术前记忆评估的额外工具。不过，该方法在识别记忆缺陷方面，相较于 NPA 敏感性稍低。这一研究成果意义重大，为癫痫手术前的记忆评估提供了新的思路和方法，尽管目前还需要进一步的专项研究来验证其在手术中更可靠的应用，但它已经为癫痫治疗领域带来了新的希望，有助于医生更精准地评估患者手术前后的记忆状况，为制定更合理的治疗方案提供参考依据。
