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矩阵平坦化策略实现塑性Cu2Se/SnSe复合材料的高热电性能
《Nature Communications》:
【字体: 大 中 小 】 时间:2025年04月08日 来源:Nature Communications
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本研究针对Cu2Se基热电材料存在的Cu空位迁移、载流子迁移率低等问题,通过创新性提出"矩阵平坦化"策略,在Cu2Se/Sn0.96Pb0.01Zn0.03Se复合材料中实现了晶格空位消除与准相干界面构建。该研究创纪录地实现了ZT值3.3(973K)和12%压缩应变,同时通过SnSe次级相捕获Cu离子显著提升了材料稳定性,为设计高性能塑性热电材料提供了新思路。
研究团队主要采用了四种关键技术方法:通过熔融法和水热法两步制备复合材料;利用球差校正扫描透射电镜(HAADF-STEM)表征原子级结构;采用塞贝克系数/电导率联合测试系统测量热电性能;结合第一性原理计算分析缺陷形成能和电荷密度分布。特别通过200个晶粒的SEM统计确定了SnSe次级相的尺寸分布(794nm-4.4μm)。
在"晶体结构与相描述"部分,XRD和STEM分析证实Sn原子填充了Cu2Se基质中的Cu空位,形成SnCu缺陷复合体(形成能仅0.07eV),实现了晶格平坦化。这一发现通过原子分辨率HAADF图像得到直接验证,其中Cu位点强度分布均匀化证实了空位消除。
"电学传输性能"研究显示,工作函数差异(Cu2Se:5.16eV vs Sn0.96Pb0.01Zn0.03Se:4.38eV)使载流子浓度优化至1.5×1020 cm-3,同时室温载流子迁移率提升至33.7 cm2·V-1·s-1(纯相材料的3倍)。这种协同优化使功率因子达到16.22 μW·cm-1·K-2(973K)。
"热传输性能"分析表明,准相干界面导致声子平均自由程从2.52nm降至0.79nm,使晶格热导率显著降低。声速测试显示纵向和横波声速同步下降,证实了界面引起的声子软化效应。
"微观结构表征"部分通过STEM揭示了三个关键特征:SnSe次级相与基体的原子级平坦界面、高密度纳米孪晶(<10nm间距)、以及位错网络。这些结构特征分别对应不同频段声子的散射中心,实现了全频谱声子散射。
在"增强的热电性能与机械性能"部分,材料展现出172.45MPa的抗压强度(纯相的4倍)和12%的压缩应变,这归因于纳米孪晶提供的额外滑移系。稳定性测试显示,在333分钟25A/cm2电流场作用下,复合材料的电阻变化率比纯相低60%,DFT计算证实这是由于SnSe中暴露的Se原子通过键合作用捕获迁移的Cu离子。
该研究的突破性体现在三个方面:理论层面首次提出"矩阵平坦化"概念,通过Sn原子填充Cu空位解决了载流子散射难题;方法学上创建了"准相干界面"设计原则,实现了声子散射与载流子传输的解耦优化;应用层面同步攻克了热电材料"高性能-高塑性-高稳定性"的不可能三角。特别是12%的压缩应变使材料具备加工成柔性器件的潜力,为可穿戴热电设备开发提供了新材料体系。这些发现不仅适用于Cu2Se体系,也为其他离子导体热电材料的设计提供了普适性策略。
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