为了深入探究这些复杂现象背后的真相,德国维尔茨堡大学(Physikalisches Institut (EP3) 和 Institute for Topological Insulators)的研究人员 Wei Liu、Stanislau U. Piatrusha 等人开展了一项关于 HgTe 量子阱约瑟夫森结的研究。他们通过精心设计实验,对基于 HgTe 量子阱的电阻分流约瑟夫森结进行微波发射测量,试图从全新的角度解读分数 AC 约瑟夫森效应。该研究成果发表在《Nature Communications》上,为该领域的研究开辟了新的方向。
研究人员采用了一系列关键技术方法。在样品制备方面,他们使用分子束外延生长的Cd0.7?Hg0.3?Te/HgTe/Cd0.7?Hg0.3?Te量子阱异质结构,通过自对准湿法蚀刻和沉积工艺制作出特定结构的约瑟夫森结器件,并在其上制作了顶栅。在测量过程中,利用商业表面贴装电阻对结进行分流,采用特定的布线配置搭建射频测量电路,通过放大器级联对信号进行放大,最后使用 HP 8563E 频谱分析仪记录光谱 。
在研究结论和讨论部分,研究人员指出,约瑟夫森结使用新型弱连接材料时,其参数范围和设计考虑因素与传统约瑟夫森结不同,金属引线布线层的大分流电容和线键连接的寄生电感会显著影响结动力学。实验中观察到的fj?/2发射和抑制的 Shapiro 台阶等现象,不能简单地被视为分数 AC 约瑟夫森效应存在的可靠指标,除非对结相动力学和射频环境进行仔细分析。
这项研究意义重大。它为拓扑超导性研究提供了新的思路,强调了在研究分数 AC 约瑟夫森效应前,深入分析相动力学的必要性,包括考虑射频测量电路的共振模式和样品夹具中的辐射耦合等因素。同时,研究还为后续实验改进提供了方向,如使用共面波导连接样品、采用电容耦合约瑟夫森结或直流超导量子干涉器件(DC SQUID)作为片上探测器等。这一系列发现和结论有助于科研人员更准确地理解和研究拓扑约瑟夫森结的特性,推动拓扑超导性研究领域朝着更深入、更准确的方向发展,为未来在该领域取得新的突破奠定了坚实基础。