腹腔镜下小儿胃造瘘纽扣置入改良技术：降低并发症风险

为解决 Vygon? UK MIC 套件相关问题，研究人员开展改良技术研究，并发症率 18%，安全性良好。

　　在使用 Vygon? UK MIC 导入套件进行腹腔镜下原发性胃造瘘纽扣置入的儿科患者中，Saf-T-Pexy 扣盘相关问题包括患者拉扯圆盘、圆盘过早脱落、护理人员焦虑以及圆盘相关的皮肤刺激。研究人员旨在通过开发一种技术改良方法来缓解这些问题，即在术中移除 Saf-T-Pexy T 型扣圆盘后，对 T 型扣缝线进行皮下打结。本研究评估了这种改良技术的并发症发生率。

研究方法为回顾性单中心连续病例系列研究，纳入了 2022 年 3 月至 2023 年 11 月期间接受腹腔镜下原发性胃造瘘纽扣置入并进行 T 型扣缝线皮下打结的儿科患者。收集的数据包括人口统计学信息、诊断结果、高依赖病房需求、手术技术、术中并发症、术后并发症以及随访时长。主要观察指标为总并发症发生率，采用描述性统计方法。

结果显示，共纳入 33 例患者，中位年龄 3.1（范围 0.2 - 15.5）岁，中位随访时间为 15（范围 2 - 22）个月。术中未发生并发症。术后并发症包括肉芽组织（n = 4，12%）、纽扣早期移位（n = 1，3%）和手术部位感染（n = 1，3%）。总并发症发生率为 18%，且所有并发症均无需手术干预。

结论表明，这种改良的胃固定方法，即对 T 型扣缝线进行皮下打结，避免了使用制造商的 Saf-T-Pexy 圆盘，从而消除了与圆盘早期脱落相关的风险以及护理人员因圆盘存在而产生的焦虑。该方法似乎是安全的，已发现的并发症均无需再次手术或重新住院。