Cu 掺杂对 τ-MnAl 相稳定性及磁性的影响:探寻高性能无稀土永磁材料新路径

【字体: 时间:2025年03月05日 来源:Heliyon 3.4

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  为提升 Mn-Al 材料磁性和相稳定性,研究人员探究 Cu 掺杂影响,发现 450°C 退火时性能最佳,意义重大。

  在科技飞速发展的当下,自动化、电动汽车、风力发电等领域对永磁体的需求与日俱增,全球永磁体市场规模预计达 220 亿美元。传统永磁体多依赖稀土元素,其出色的磁性使其成为这些领域的关键材料。然而,稀土元素价格高昂且供应不稳定,这就像一颗 “定时炸弹”,严重制约着永磁体行业的可持续发展。寻找能替代稀土元素的新型永磁材料,成为科研人员亟待攻克的难题。
在此背景下,MnAl 基合金凭借其独特优势进入了研究人员的视野。MnAl 合金中的 τ 相,具有四方 L10结构,展现出高各向异性场(HA)、饱和磁化强度(MS)和高于 300°C 的居里温度(TC),是极具潜力的无稀土永磁材料 “候选者”。但 τ 相存在一个 “致命弱点”—— 它是亚稳相,在一定条件下容易分解为非磁性的 γ2相和 β 相,导致磁性下降。如何稳定 τ 相并提升其磁性,成为了研究的关键。

来自哥伦比亚山谷大学、安第斯大学等多所研究机构的研究人员 A.J. Echeverri R、M. Sánchez 等组成科研团队,针对这一问题展开深入研究。他们将目光聚焦在 Cu 掺杂对 MnAl 合金的影响上,通过一系列实验,试图揭开提升 MnAl 基永磁材料性能的奥秘。相关研究成果发表在《Heliyon》杂志上。

为开展此项研究,研究人员主要运用了以下几种关键技术方法:一是采用熔纺法,以 20m/s 的速度和 400 - 450mbar 的压力在氩气氛围中制备金属薄带,快速冷却获得高温 ε 相;二是运用 XRD(X 射线衍射)技术,使用布鲁克 D8 X 射线衍射仪在室温下测量样品粉末,通过 Rietveld 精修分析衍射图谱,获取晶格参数等信息;三是借助 SEM(扫描电子显微镜)配备 EDX(能量色散 X 射线)探测器,观察样品的微观结构、相分布及化学成分;四是利用 VSM(振动样品磁强计)测量合金的磁性能,如剩磁和矫顽场。

研究结果如下:

  • 扫描电子显微镜(SEM)分析:通过 SEM 观察发现,熔纺样品表面均匀,存在 τ 相成核区域,EDX 分析表明样品成分接近预期。在样品中还观察到了铁磁 τ 相、β 相和抛光产生的缺陷,τ 相电子密度高,在材料基体中均匀分布;β 相亮度适中,成分和密度与 τ 相不同;表面缺陷则表现出低电子反射率12
  • X 射线衍射(XRD)分析:研究人员对不同成分的样品进行 XRD 分析,发现熔纺过程能获得大量前驱体 ε 相和一定比例的 τ 相。在 Mn55-xAl45Cux体系中,未热处理样品中较高的 Cu 含量能部分稳定高温相;随着退火温度升高,τ 相比例下降,β 相含量增加。对 τ 相晶格参数分析发现,Cu 掺杂影响晶格尺寸,但整体结构保持一致。在 Mn55Al45-xCux体系中,情况类似,且由于 Al 被 Cu 取代,合金更易分解为非磁性相34
  • 振动样品磁强计(VSM)分析:VSM 测量结果显示,Mn55-xAl45Cux体系合金表现出硬磁行为,退火温度升高,磁性降低。450°C 退火时,2.0at.% Cu 掺杂(450Mn2.0)样品的矫顽场(Hc)为 134.1kA/m,剩磁(Mr)为 41.0A?m2/kg ,最大磁能积((BH)max)为 13.7kJ/m3;2.5at.% Cu 掺杂(450Mn2.5)样品的 Hc为 145.2kA/m,Mr为 35.6A?m2/kg ,(BH)max为 10.2kJ/m3。在 Mn55Al45-xCux体系中,Al 被 Cu 部分取代使体系磁化强度降低,但矫顽场增加,其中 Mn55Al42.5Cu2.5成分的矫顽场最高56

研究结论与讨论部分指出,通过熔纺工艺能获得大量前驱体 ε 相和亚稳 τ 相,450°C 是获得理想铁磁 τ 相的最佳温度,高于此温度,τ 相会分解为非磁性相。不同 Cu 掺杂体系表现出不同的相分解行为,Mn55-xAl45Cux体系主要分解为 β 相,而 Mn55Al45-xCux体系则分解为 β 相和 γ2相,且 β 相占主导。此外,适量 Cu 掺杂能提高 τ 相比例,细化微观结构,提升合金的磁性。研究还发现,c/a 比与最大磁能积密切相关,对其深入研究有助于设计高性能磁性材料。

这项研究为无稀土永磁材料的发展提供了重要理论依据和实践指导,有望推动 MnAl 基永磁材料在实际生产中的应用,缓解稀土资源依赖问题,在永磁材料领域具有重要的科学意义和应用价值。
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