电子撞击下黑色Kapton薄膜总电子发射效率（TEEY）特性的详细研究

《IEEE Journal of Photovoltaics》：Detailed Study of the Total Electron Emission Yield (TEEY) Properties of Black Kapton Under Electron Impact

【字体： 大 中 小 】 时间：2025年12月17日 来源：IEEE Journal of Photovoltaics 2.6