一种适用于RRAM（电阻式随机存取存储器）的有效故障检测方法

首页今日动态人才市场新技术专栏中国科学人云展台
BioHot
云讲堂直播会展中心特价专栏技术快讯免费试用

生物通官微
陪你抓住生命科技
跳动的脉搏

生物通首页 > 今日动态 > 正文

《IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems》：An Effective Faults Detection Method for RRAM Application

【字体：大中小】 时间：2025年12月02日 来源：IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 3.1

编辑推荐：

　　针对基于RRAM的非易失性存储器纳米尺度制造工艺中的不确定性问题，提出March-RAWN算法，通过动态算法元素和新型读操作（R0th、R1th、R0th）有效检测并提高故障覆盖率至88.76%，实验验证了其在RRAM阵列中的可靠性。

摘要：

基于电阻式随机存取存储器（RRAM）的新兴非易失性器件有望在未来取代传统的存储技术。然而，RRAM的纳米级制造过程引入了不确定性，导致缺陷和随后的读取错误，尤其是那些间歇性出现且缺乏有效检测方法的独特故障。本文首先分析了RRAM故障形成的原理，并确定了相应的故障特征。为了解决这些问题，我们提出了March-RAWN算法，该算法结合了动态算法元素来处理传统存储故障和RRAM特有的故障。通过引入新的读取操作（

热点排行

新闻专题

联系信箱：

粤ICP备09063491号