关于右侧前额叶皮层在主动遗忘中的因果作用

《Journal of Cognitive Neuroscience》：On the Causal Role of the Right Lateral Prefrontal Cortex in Active Forgetting

抑制性遗忘机制研究：通过经颅直流电刺激验证右前额叶皮层的作用，比较真实刺激、假刺激及对照部位效果，并分析左右侧差异。

　　

摘要：

大量研究表明，人们可以通过抑制不需要的记忆的提取来有意地遗忘这些记忆，这种现象被称为抑制诱导遗忘（Suppression-Induced Forgetting，简称SIF）。尽管神经影像学研究已将记忆提取的抑制与右外侧前额叶皮层（Right Lateral Prefrontal Cortex，简称LPFC）联系起来，但该区域在支持SIF过程中所起因果作用的直接证据仍然缺乏。在这份注册报告中，我们旨在通过使用阴极经颅直流电刺激（Cathodal Transcranial Direct Current Stimulation）并在标准的“思考/不思考”程序中进行实验，对这一观点进行严格的实证验证。在两个实验中，我们将比较接受右LPFC区域阴极经颅直流电刺激的参与者（已知这种刺激会破坏前额叶介导的抑制控制）与接受假刺激或左LPFC区域阴极刺激的参与者的遗忘效果。此外，我们还将通过比较右LPFC和左LPFC的刺激效果来研究这种效应的侧化特性。我们的研究结果将为理解大脑的抑制控制机制提供新的、关键的见解。