在黑磷基底上,高度取向的磷化铟通过混合驱动实现生长

《Advanced Functional Materials》:Intermixing-Driven Growth of Highly Oriented Indium Phosphide on Black Phosphorus

【字体: 时间:2025年11月07日 来源:Advanced Functional Materials 19

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  通过控制金属铟与黑磷的界面混合,形成高取向铟磷(InP)化合物层,结合电子衍射、原子分辨扫描电镜、X射线光电子能谱和拉曼光谱表征,证实InP在BP表面的定向生长及原子级界面结构。电学分析表明,InP界面形成导致两种竞争效应:BP厚度减薄引起的带隙增大和界面电荷转移引起的有效带隙缩小,从而实现通道电学特性的可调谐。

  在当今科技快速发展的背景下,二维材料因其独特的物理和电子特性,正逐渐成为新一代电子器件的重要研究对象。这些材料不仅能够有效抑制短沟道效应,还能够通过无晶格失配的范德华(vdW)相互作用实现可调的性能,为高性能纳米电子器件的设计与制造提供了新的可能性。然而,尽管二维材料在多个领域展现出广阔的应用前景,其界面行为和性质仍然是研究中的难点,尤其是在化学活性较强的二维半导体系统中,相关现象的系统性理解仍然不足。

在本研究中,科学家们重点探讨了金属与二维半导体材料界面处的可控混合和化合物形成过程。以黑磷(BP)为例,它是一种由磷原子组成的二维晶体,具有层依赖性的可调直接带隙、高电荷载流子迁移率以及独特的 puckered 结构,这些特性赋予其各向异性物理行为。BP 的表面具有高度的化学活性,能够促进与金属或其他材料的界面反应,从而形成新的界面结构。这种特性使得 BP 成为研究界面工程的理想材料,同时也带来了对其界面行为深入理解的挑战。

研究团队通过物理气相沉积技术,在 BP 表面沉积了铟(In),并利用多种先进的表征手段,如电子衍射、原子分辨率扫描透射电子显微镜(STEM)、X 射线光电子能谱(XPS)和拉曼光谱,确认了在 BP 表面形成高度取向的 InP 晶体。这些实验结果表明,InP 在 BP 表面的生长具有高度的方向性和有序性,这为后续的界面行为研究提供了坚实的基础。此外,研究还发现,InP 的形成不仅受到 In 沉积量的影响,还与后续的热退火处理密切相关。适当的退火温度可以促进 InP 的完全形成,同时减少 In 的表面残留,从而优化界面结构和性能。

在界面能量分析方面,研究团队通过计算和模拟,揭示了 BP 与 InP 之间界面能量的变化规律。结果显示,当 InP 的晶格方向与 BP 的晶格方向一致时,界面能量最低,这表明了高度取向生长的热力学优势。这种界面结构的稳定性不仅有助于理解材料间的相互作用,也为进一步的界面工程提供了理论依据。

进一步的研究还涉及了 BP 在形成 InP 后的电学性能变化。通过测量 BP/InP 异质结的电学特性,科学家们发现两种相互竞争的效应:1)BP 厚度减小导致的带隙扩大;2)界面电荷转移引起的带隙缩小。这些效应在不同厚度的 BP 样本中表现出显著差异,例如,在非常薄的 BP(如 3 层)中,电荷转移对带隙的影响更为显著,从而导致较高的电导率;而在较厚的 BP(如 7 层及以上)中,厚度减小导致的带隙扩大成为主导因素,这使得 BP 的电导率降低。通过调整 BP 的初始厚度和 In 的沉积量,可以有效地调控 BP 的带隙和电导特性,从而实现对异质结性能的精细控制。

此外,研究团队还利用拉曼光谱和光学显微镜等技术,对 BP/InP 异质结的界面结构和电学行为进行了系统分析。实验发现,InP 的形成不仅改变了 BP 的表面形态,还显著影响了其电学特性,如载流子迁移率和导通特性。通过调整 In 的沉积厚度和 BP 的初始层数,可以实现对异质结中有效带隙的调控,这为设计具有多功能性的二维异质结构提供了重要的理论支持。

研究结果表明,通过控制界面反应,可以有效地实现二维材料与金属之间的异质结形成,并且这种形成过程对器件性能有着显著的影响。例如,InP 的形成不仅提高了 BP 的电荷迁移率,还通过界面电荷转移实现了对 BP 的 p 型掺杂,从而改善了器件的电学行为。这些发现为未来基于二维材料的器件设计和制造提供了新的思路和方法,同时也为理解二维材料与金属之间的界面现象奠定了基础。

在实验方法方面,研究团队采用了多种高精度的表征技术,包括透射电子显微镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)和 XPS 等,以确保实验数据的准确性和可靠性。通过优化沉积和退火条件,研究者能够获得高度均匀的 InP 薄膜,并确保其与 BP 的良好界面接触。这些实验条件的控制对于实现理想的异质结结构至关重要。

综上所述,这项研究揭示了二维材料与金属之间可控界面反应的重要性,并展示了这种反应对材料性能的深远影响。通过精确调控界面反应条件,科学家们能够实现对二维半导体材料带隙和电导特性的有效调控,这不仅拓展了二维材料在电子器件中的应用范围,也为进一步探索二维异质结构的多功能性提供了理论依据和技术支持。研究结果表明,界面工程在二维材料的性能优化和功能拓展中具有关键作用,未来的研究可以进一步探索不同二维材料与金属之间的界面行为,以开发更多具有创新性的电子器件。
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