半导体测序技术在临床上的应用

　　

半导体芯片测序综述特别报道来自世界各地使用半导体测序技术的科学家们的采访和演说。本期杂志特刊了来自11月份在德克萨斯州格雷普韦恩举办的分子病理学学会年会上的演讲。两位科学家分享了他们在使用Ion靶向重测序产品的一些体会。

半导体测序技术在肿瘤诊断上的应用

Christopher Corless，医学博士，理学博士　
Oregon健康科学大学Knight诊断实验室首席医师

Corless博士讨论了最近使用Ion Ampliseq 肿瘤突变筛查试剂盒的工作，比较了基于扩增的方法和基于杂交捕获的方法。他在测序深度，灵敏度，通量，读长和准确性等方面做了评述。

 

基于半导体测序技术，临床可实现基因突变筛查

Marilyn Li，医学博士
Baylor医学院肿瘤遗传实验室总监

李博士讨论了她使用Ion Ampliseq肿瘤筛查试剂盒进行实验室验证的最新工作，同时在试剂盒的覆盖度，灵敏度，稳定性等方面做了评述。

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