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美宾州大学发现检测隐性遗传缺失的新方法
【字体: 大 中 小 】 时间:2006年07月06日 来源:生物通
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生物通报道:来自美国宾州大学的Vivian Cheung 和 Warren Ewens博士主持的研究发展出一种利用微数组芯片来检验隐性遗传缺失的方法。这一研究发表在Genome Research期刊上发表。
研究者成功的检测出一种体细胞遗传物质不稳定的疾病Nijmegen breakage syndrome(NBS)的基因表现差异。截至目前为止,仅知道NBS1这个基因与NBS有关。若一对染色体上的NBS1基因都突变,则会导致头部过小、生长迟缓、免疫能力缺陷与易于发生癌症等症状;但只有一个染色体有突变的异型合子(heterozygous)则表现与正常人无异,不过似乎也有高罹癌机率。
利用微数组芯片,研究者能够快速的筛检数千个基因,顺利找出在3,928 个基因中,NBS异型合子和正常人的有将近有500个表现不同的基因。他们进一步证实了16个基因有明显的表现差异,也能明显的区分出和NBS非常相似的另一遗传疾病毛细血管扩张性运动失调(ataxia telangiectasia)。
研究者表示这16个基因可以作为NBS的检验指针,同时这套检验方式也能快速搜寻其它具有隐性遗传缺失的疾病,可说是遗传与临床上的好消息。